HIOKI日置IM3590阻抗分析仪IM3570

现金回收hioki日置IM3570日本HIOKI日置IM3590 LCR测试仪

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● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查

● LCR模式下z快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量

● 基本精度±0.08%的高精度测量

● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量

● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量

● 可以用于无线充电评价系统TS2400

● 搭配4ch扫描模块机架，更能实现2MHz阻抗的4ch测量

M3570阻抗分析仪,日置IM3570阻抗分析仪适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量。

IM3570阻抗分析仪,日置IM3570阻抗分析仪的特点：

1.基本精度±0.08%的高精度测量，分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量。

 2.LCR模式下z快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量。

3.HIOKI IM3570适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量。

4.1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查。

IM3570阻抗分析仪,日置IM3570阻抗分析仪的技术参数表：

测量模式 LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量

HIOKI IM3570的测量参数 Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q

测量量程 100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定）

显示范围 Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示绝对值

θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）

Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）

基本精度 Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°

测量频率 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进）

测量信号电平 V模式，CV模式（普通模式）

50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下）

10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上）

CC模式（普通模式）

10μA~50mA rms，10μA rms步进（1MHz以下）

10μA~10mA rms，10μA rms步进（1.0001MHz以上）

HIOKI IM3570输出阻抗 普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω

显示 彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF

测量时间 0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值）

测量速度 FAST/MED/SLOW/SLOW2

HIOKI IM3570其他功能 DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能

接口 EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN

电源 AC90~264V，50/60Hz，z大150VA

打印 拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446）

接口 GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准)

电源 AC90~264V，50/60Hz，z大150VA

体积和重量 330W×119H×307Dmm，5.8kg

附件 电源线×1