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Photonic lattice应力双折射解决方案主要简介：
WPA系列是Photonic lattic公司采用自研的光子晶体技术，开发的一款适用性高的应力双折射检测设备，可测量相位差（光程差）高达3500nm，适合注塑成型的透光器件的应力双折射检测，高速而的测量能力受到各大光学厂和研究机构的青睐。数秒给出被测产品的应力双折射大小和分布信息。
WPA 系列是Photonic Lattice, Inc.针对高双折射的透明材料开发的光学测量设备，通过核心的偏光图像传感器，可以快速准确的测量透明材料的应力双折射，针对不同产品尺寸，均有可匹配的型号可供选择。
Photonic lattice应力双折射解决方案仪主要特点：
可快速自动测量应力双折射的大小、方向和分布；
面测量、可一次测量视野范围内样品的全部数据；
具备点、线、面、3D的分析功能；
三波长可量测0-3500nm，可拓展至10000nm；
可输出光程差（nm）、偏振角度（°）、应力（Mpa）、应力双折射（nm/mm）。
应力双折射设备三大核心优势，破解行业检测痛点
在快节奏的生产研发场景中，WPA系列设备凭借高效、全面、精准的核心特点，成功破解了传统检测模式的诸多难题。
高效测量，提速增效不打折。相较于传统设备动辄数十分钟的测量耗时，WPA系列设备可在数秒内快速输出检测结果，大幅缩短检测周期。更值得一提的是，设备支持面测量模式，能够一次性获取视野范围内的全部检测数据，无需逐点、逐线重复测量，可以适配批量生产中的高效检测需求，帮助企业显著提升生产效率。
功能全面，多场景适配无压力。设备具备点、线、面、3D全维度分析功能，可满足不同检测场景的多样化需求。在测量范围上，涵盖523nm、543nm、575nm三波长，基础测量范围可达0-3500nm，根据实际需求还可拓展至10000nm，无论是常规透明材料还是特殊高双折射材料，都能精准覆盖。
输出丰富，数据支撑更有力。检测完成后，设备可同步提供光程差、偏振角度、应力、应力双折射等多类核心数据，数据维度全面，能够为产品研发优化、生产质量管控提供详尽的参考依据，帮助企业精准定位产品问题，提升产品核心竞争力。
http://www.oelectron.cn/Products-39743329.html
https://www.chem17.com/st348659/product_39743329.html
